四探針電阻率測試儀檢測條件

　　本規(guī)程適用于新生產(chǎn)、使用中和修理后的接觸式測量范圍在0.001～103Ω·cm的電阻率測試儀的檢定。對某些多功能的測試或只能測方塊電阻的測試儀也同樣適用，方塊電阻的測量范圍在0.01～104Ω/□。本規(guī)程不適用于二探針、三探針和六探針以及方形探頭電阻率測試儀。

　　四探針電阻率測試儀概述

　　四探針電阻率測試儀是用來測量半導體材料及工藝硅片的電阻率，或擴散層及外延層方塊電阻的測量儀器。它主要由電氣部分和探頭部分組成，電氣部分一般包括穩(wěn)流源、數(shù)字電壓表或電位差計、換向開關等儀器。探頭部分一般包括探針架、探針頭和樣品臺。

　　1-穩(wěn)流源;2-換向開關;3-標準電阻;4-探針接線;5-無熱電勢開關;6-數(shù)字電壓表;7-被測樣品

　　1-微型計算機部分;2-電氣箱部分;3-手動升降機構、探針架、探針頭及樣品臺部分

　　四探針電阻率測試儀檢定環(huán)境條件

　　四探針電阻率測試儀應在恒溫清潔室內進行，檢定具體要求見表3。檢定前，儀器和所用的標準儀器設備應在恒溫室內旋轉12h以上。

　　*在檢定過程中發(fā)現(xiàn)有靜電感應或泄漏電流的現(xiàn)象，則應采取相應的屏蔽或接地措施消除。